000 01665nam0a2200313 4500
001 RU\NLR\bibl\58379
005 20260405074711.0
010 _a5-7681-0031-8
_9100
021 _aRU
_b98-44482
_92134
035 _a(NLR Aleph) 000056932
090 _a308219
_c308219
100 _a19991112d1997 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aМатематическое моделирование параметров качества и управления надежностью микропроводных межсоединений интегрированной микроэлектронной аппаратуры
_fЕ.М. Терещенко, В.М. Емельянов
_gМ-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Курский гос. техн. ун-т
210 _aКурск
_cКурский гос. техн. ун-т
_d1997
215 _a104 с.
_cил.
_d21
320 _aБиблиогр. : с. 98-103
606 0 _aРадиоэлектронная аппаратура миниатюрная
_xКонтакты
_xНадежность
_92126937
_3RU\NLR\auth\661283710
686 _aЗ844.1-049.7-021.1
700 1 _aТерещенко
_bЕ. М.
_gЕвгений Михайлович
_4070
701 1 _4070
_8rus
_7ca
_aЕмельянов
_bВ. М.
_cканд. техн. наук, микроэлектроника
_gВиктор Михайлович
_3RU\NLR\auth\7726436
_99475
801 0 _aRU
_bNLR
_c19991112
_gPSBO
801 1 _aRU
_bNLR
_c19991112
852 _aNLR
_j99-3/14352
942 _cBOOK
980 _aNB