000 01626nam0a2200325 i 4500
001 RU\NLR\bibl\1915748
005 20260127205056.0
010 _a9785982227751
_9100
021 _aRU
_b2012-38764
_92874
035 _a(NLR Aleph) 001905244
090 _a3101819
_c3101819
100 _a20120620d2012 k y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aОперативная оценка стойкости полупроводниковых изделий к локальным радиационным эффектам
_eмонография
_fВ.Ф. Барабанов, М.Е. Пашковский, С.Л. Подвальный
_gМ-во образования и науки Рос. Федерации
210 _aВоронеж
_cНаучная книга
_d2012
215 _a128 с.
_cил.
_d21
320 _aБиблиогр.: с. 125-128 (60 назв.)
606 1 _aПолупроводниковые приборы
_xРадиационная стойкость
_2nlr_sh2
_3RU\NLR\auth\66876940
_91922156
686 _aЗ852-019.8
700 1 _8rus
_7ca
_aБарабанов
_bВ. Ф.
_cд-р техн. наук
_gВладимир Федорович
_3RU\NLR\auth\77113367
_4070
_996292
701 1 _aПашковский
_bМ. Е.
_gМихаил Евгеньевич
_4070
701 1 _8rus
_7ca
_aПодвальный
_bС. Л.
_f1938-
_gСемен Леонидович
_3RU\NLR\auth\7767689
_4070
_950617
801 0 _aRU
_bNLR
_c20120620
_gRCR
801 1 _aRU
_bNLR
_c20120620
942 _cBOOK
980 _aNBR