| 000 | 01014nam0a2200265 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU\NLR\bibl\1921265 | ||
| 005 | 20250616201510.0 | ||
| 010 |
_a978-5-7782-1924-3 _9100 |
||
| 021 |
_aRU _b2012-43599 _93220 |
||
| 035 | _a(NLR Aleph) 001910721 | ||
| 090 |
_a3172464 _c3172464 |
||
| 100 | _a20120705d2012 |||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _ay ||||||||| | ||
| 200 | 1 | _aОпределение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии. Уч.-метод. пособие | |
| 210 |
_aНовосибирск _cНГТУ _d2012 |
||
| 215 | _d20 | ||
| 700 | 1 |
_aВеличко _bА. А. _4070 |
|
| 701 | 1 |
_aКольцов _bБ. Б. _4070 |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _c20120705 _gRCR |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bNLR _c20120705 |
|
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||