000 01855nam2a22002891 4500
001 RU\NLR\INFOCOMM55\1000056631
005 20250617112143.0
035 _a(NLR Aleph) 002571215
090 _a3191264
_c3191264
100 _a20040528d1977 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _ay |||||||||
200 1 _aЭллипсометрические методы исследования и контроля в полупроводниковой микроэлектронике
_fР.Р. Резвый, М.С. Финарев
210 _d1977
_aБ. м.
225 1 _a...
_vВып.472
_i...
_v1977, Вып.7
461 0 _1001RU\NLR\INFOCOMM55\1000056712
_12001#$aОбзоры по электронной технике$fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"$vВып.472
_93197280
_cМ.
_d1968-
_fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"
_tОбзоры по электронной технике
_vВып.472
462 0 _1001RU\NLR\INFOCOMM55\1000056549
_12001#$aОбзоры по электронной технике$iСерия Полупроводниковые приборы$fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"$v1977, Вып.7
_93190557
_cМ.
_d1970-
_fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"
_iСерия Полупроводниковые приборы
_tОбзоры по электронной технике. - Обзоры по электронной технике
_v1977, Вып.7
700 1 _aРезвый
_bР.Р.
_4070
701 1 _aФинарёв
_bМ.С.
_4070
801 1 _aRU
_bInfoComm
_c20040528
801 0 _aRU
_bNLR
_gPSBO
852 _aNLR
_jП51/94
942 _cISSUE
980 _aNB
980 _aRUSPER