000 02012nam2a22002891 4500
001 RU\NLR\INFOCOMM17\1000422333
005 20250617112446.0
035 _a(NLR Aleph) 002572453
090 _a3201874
_c3201874
100 _a20040601d1980 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _ay |||||||||
200 1 _aОбеспечение стойкости микроэлементов интегральных микросхем к воздействию климатических условий
_e(По данным отеч. и зарубеж. печати за 1967- 1977 г.г.)
_fО.П. Глудкин, А.Л. Русанова
210 _d1980
_aБ. м.
225 1 _a...
_vВып.733
_i...
_v1980, Вып.3
461 0 _1001RU\NLR\INFOCOMM55\1000056712
_12001#$aОбзоры по электронной технике$fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"$vВып.733
_93197280
_cМ.
_d1968-
_fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"
_tОбзоры по электронной технике
_vВып.733
462 0 _1001RU\NLR\INFOCOMM17\1000422312
_12001#$aОбзоры по электронной технике$iСерия: Управление качеством и стандартизация$fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"$v1980, Вып.3
_93201696
_cМ.
_d1970-
_fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"
_iСерия: Управление качеством и стандартизация
_tОбзоры по электронной технике. - Обзоры по электронной технике
_v1980, Вып.3
700 1 _aГлудкин
_bО.П.
_4070
701 1 _aРусанова
_bА.Л.
_4070
801 1 _aRU
_bInfoComm
_c20040601
801 0 _aRU
_bNLR
_gPSBO
852 _aNLR
_jП51/94
942 _cISSUE
980 _aNB
980 _aRUSPER