000 01731nam2a22002891 4500
001 RU\NLR\INFOCOMM17\1000421811
005 20040527174435.0
035 _a(NLR Aleph) 002573086
090 _a3207293
_c3207293
100 _a20040527d1990 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _ay |||||||||
200 1 _aПараметрическая оптимизация проектируемых устройств по критериям стоймости и качества
_fС.И. Дудов, В.П. Мещанов
210 _d1990
225 1 _a...
_vВып.1512
_i...
_v1990, Вып.1
461 0 _1001RU\NLR\INFOCOMM55\1000056712
_12001#$aОбзоры по электронной технике$fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"$vВып.1512
_93197280
_cМ.
_d1968-
_fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"
_tОбзоры по электронной технике
_vВып.1512
462 0 _1001RU\NLR\INFOCOMM17\1000421550
_12001#$aОбзоры по электронной технике$hСерия1$iСВЧ-техника$fЦНИИ "Электроника"...$v1990, Вып.1
_93205059
_cМ.
_d1970-
_fЦНИИ "Электроника"
_hСерия 1
_iСВЧ-техника
_nИзд-во ЦНИИ "Электроника"
_tОбзоры по электронной технике. - Обзоры по электронной технике
_v1990, Вып.1
700 1 _aДудов
_bС. И.
_4070
701 1 _aМещанов
_bВ. П.
_4070
801 0 _aRU
_bNLR
_gPSBO
801 1 _aRU
_bInfoComm
_c20040527
852 _aNLR
_jП51/94
942 _cISSUE
980 _aNB
980 _aRUSPER