| 000 | 01820nam0a2200313 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU\NLR\bibl\977122 | ||
| 005 | 20250614213148.0 | ||
| 010 |
_a5-7256-0401-2 _9300 |
||
| 021 |
_aRU _b2006-41371 _92071 |
||
| 035 | _a(NLR Aleph) 000965042 | ||
| 090 |
_a363621 _c363621 |
||
| 100 | _a20060822d2005 |||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _aa ||||||||| | ||
| 200 | 1 |
_aМетоды измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур _eучебное пособие _eдля студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике" _fЕ.С. Анфалова _gМ-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Моск. гос. ин-т электрон. техники (техн. ун-т) |
|
| 210 |
_aМосква _cМИЭТ _d2005 |
||
| 215 |
_a148 с. _cил. _d20 |
||
| 320 | _aБиблиогр.: с. 146 (7 назв.) | ||
| 606 | 1 |
_aПолупроводники многослойные _jУчебные издания для высших учебных заведений _xПараметры _xИзмерение _91938050 _3RU\NLR\auth\66885396 |
|
| 606 | 1 |
_aПолупроводники _jУчебные издания для высших учебных заведений _xПараметры _xИзмерение _92445094 _3RU\NLR\auth\661454280 |
|
| 686 | _aЗ843.306-1-7с.я73-1 | ||
| 686 | _aЗ852-016я73-1 | ||
| 700 | 1 |
_aАнфалова _bЕ. С. _gЕлена Сергеевна _4070 |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _c20060822 _grcr |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bNLR _c20060822 |
|
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||