000 01134nam0a2200301 4500
001 RU\NLR\b_ik\180002
005 20260407210529.0
010 _a978-5-93634-048-2
_9320
035 _a(NLR Aleph) 002252568
090 _a3708840
_c3708840
100 _a20091026d2009 |||y0rusy50 ca
101 0 _aeng
102 _aRU
105 _ay |||||||||
200 1 _a25th International conference on defects in semiconductors, St. Petersburg, Russia, July 20-24, 2009
_ebook of abstracts
210 _aSt Petersburg
_cIoffe inst.
_d2009
215 _a466 c.
_d20
313 _aвт.ч. конкретные п/п
320 _aБиблиогр. в конце тез.
320 _aУказ.: с. 451-466
606 1 _aПолупроводники
_jСъезды, совещания и т.п.
_xДефекты
_92085321
_3RU\NLR\AUTH\661261436
686 1 _aВ379.2я431(0)
686 1 _aЗ843.304я431(0)
710 1 2 _4070
_8eng
_aInternational conference on defects in semiconductors
_d25
_f2009
_eSaint-Petersburg
_7ba
_3RU\NLR\AUTH\8810139216
_9773608
801 0 _aRU
_bNLR
_c20091026
_gRCR
942 _cBOOK
980 _aNB