000 01672nam0a2200349 4500
001 RU\NLR\bibl\71166
005 20260406064319.0
021 _aRU
_b1999-41803
_92056
035 _a(NLR Aleph) 000069433
090 _a382155
_c382155
100 _a20000221d1999 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
_deng
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aАвтоматическая система экспресс-анализа облучаемых образцов
_fИ.К. Взоров, А.В. Калмыков, С.А. Коренев и др.
210 _aДубна
_cОИЯИ
_d1999
215 _a20,[1] с.
_cил.
_d22
225 1 _aСообщения Объединенного института ядерных исследований
_vР 10-99-192
300 _aРез. на англ. яз.
320 _aБиблиогр.: с. 20
606 0 _aМеталл-диэлектрик-полупроводник, система
_xЭлектрические параметры
_xЭкспресс-анализ автоматический
_92152652
_3RU\NLR\auth\661296208
606 0 _aМДП-структуры
_xЭлектрические параметры
_xЭкспресс-анализ автоматический
_92152654
_3RU\NLR\auth\661296209
686 _aЗ852.39-016-07
701 1 _aВзоров
_bИ. К.
_4070
701 1 _aКалмыков
_bА. В.
_4070
701 1 _4070
_8rus
_7ca
_aКоренев
_bС. А.
_f1951 -
_gСергей Александрович
_3RU\NLR\auth\7714162
_9123836
801 0 _aRU
_bNLR
_c20000221
_gPSBO
801 1 _aRU
_bNLR
_c20000221
852 _aNLR
_j99-6/1286
942 _cBOOK
980 _aNB