| 000 | 01579nam0a2200337 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU\NLR\bibl\82163 | ||
| 005 | 20250616104611.0 | ||
| 021 |
_aRU _b2000-8201 _9413 |
||
| 035 | _a(NLR Aleph) 000080237 | ||
| 090 |
_a446454 _c446454 |
||
| 100 | _a20000424d1999 |||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 |
_arus _deng |
|
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _aa ||||||||| | ||
| 200 | 1 |
_aМоделирование процессов электромиграции и зарождения дефектов в токопроводящих дорожках интегральных микросхем _fА.С. Владимиров, Р.В. Гольдштейн, Ю.В. Житников и др. |
|
| 210 |
_aМ. _cИПМ _d1999 |
||
| 215 |
_a65 с. _cил. _d20 |
||
| 225 | 1 |
_aПрепринт _fИн-т пробл. механики Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т Рос. акад. наук _vN 652 |
|
| 320 | _aБиблиогр.: с. 62-65 (42 назв.) | ||
| 606 | 0 |
_aИнтегральные схемы _xПроводящие элементы _xРазрушение _92165083 _3RU\NLR\auth\661302770 |
|
| 686 | _aЗ844.15-049.9-01 | ||
| 701 | 1 |
_aВладимиров _bА. С. _gАлександр Сергеевич _4070 |
|
| 701 | 1 |
_aГольдштейн _bР. В. _gРоберт Вениаминович _4070 |
|
| 701 | 1 |
_aЖитников _bЮ. В. _gЮрий Владимирович _4070 |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _c20000424 _gPSBO |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bNLR _c20000424 |
|
| 830 | _aАвт. по кн. | ||
| 852 |
_aNLR _j2000-4/823 |
||
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||