000 01647nam0a22003611 4500
001 rc\2212263
005 20260406021607.0
035 _a(NLR Aleph) 006696502
090 _a5199666
_c5199666
100 _a20110829d1978 |||y0rusy50 ca
101 1 _arus
_ceng
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aПрактическая растровая электронная микроскопия
_f[Дж. Гоулдстейн, Х. Яковиц, Д. Ньюбэри и др.]
_gПод ред. Дж. Гоулдстейна и Х. Яковица
_gПер. с англ. под ред. В.И. Петрова
210 _aМосква
_cМир
_d1978
215 _a656 с.
_cил.
_d21
311 _aПеревод изд.: Practical scanning electron microscopy. Авт. указаны в содерж. C Plenum press, 1975
320 _aИмен. и предм. указ.: с. 643-650
320 _aБиблиогр.: с. 615-642, и библиогр. в конце глав
454 0 _12001#$aPractical scanning electron microscopy
_tPractical scanning electron microscopy
606 _aЭлектронная микроскопия
_2psbo
701 1 _aНьюбэри
_bД.
702 1 _4730
_8rus
_7ca
_aПетров
_bВ. И.
_cд-р физ.-мат. наук
_f1935-2007
_gВиктор Иванович
_3RU\NLR\AUTH\77123118
_9106043
702 1 _aЯковиц
_bХ.
_4570
702 1 _aГоулдстейн
_bДж.
_4570
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j79-5/1016
899 _aRuMoRGB
_jБ 78-30/592
899 _aRuMoRGB
_jБ 78-30/593
942 _cBOOK
980 _aNB