000 01060nam0a22002651 4500
001 rc\1166623
005 20250622204726.0
035 _a(NLR Aleph) 006410221
090 _a5338090
_c5338090
100 _a20041129d1980 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aТехнологическое обеспечение качества приборов
_e[Сб. статей]
_fПод ред. д. т. н. проф. П.В. Сыроватченко
210 _aМ.
_cМВТУ
_d1980
215 _a161 с.
_cил.
_d20
225 1 _aТруды МВТУ
_fМоск. высш. техн. училище им. Н.Э. Баумана
_v№ 322
300 _aВ надзаг. также: М-во высш. и сред. спец. образования СССР
320 _aБиблиогр. в конце статей
702 1 _aСыроватченко
_bП.В.
_gПавел Васильевич
_4340
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_jП10/775
942 _cBOOK
980 _aNB