000 01021nam0a22002531 4500
001 rc\249437
005 20250621014215.0
035 _a(NLR Aleph) 005505634
090 _a5352002
_c5352002
100 _a20030307d1990 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _ay |||||||||
200 1 _aМЕТРОЛОГИЯ контрольно-измерительной техники в силовых полупроводниковых приборах
_e[По материалам отеч. лит. за 1987-1990 гг.
_fСост. Чащина С.В., Братолюбов В.Б.]
210 _aМ.
_cБ. и.
_d1990
215 _a27 с.
_d30
225 1 _aТУЛ
_fВсесоюз. электротехн. ин-т им. В.И. Ленина. ОНТИ
_v№ 236
300 _aНа обл. только загл. сер.: Темат. указ. лит.
702 1 _aЧащина
_bС.В.
_4220
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_bС
_jП-1/819
942 _cBOOK
980 _aNB