000 01269nam1a22002771i 4500
001 rc\3448619
005 20240726044955.0
035 _a(NLR Aleph) 007572288
090 _a5418753
_c5418753
100 _a20130115d1970 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _a z |||||
200 1 _aРентгенографический и электронно-оптический анализ
_eПракт. руководство по рентгенографии, электронографии и электронной микроскопии металлов, полупроводников и диэлектриков
_e[Учеб. пособие для студентов вузов]
205 _a2-е изд., испр. и доп.
210 _aМосква
_cМеталлургия
_d1970
215 _a368 с.
_cил.
_d26
300 _aПеред загл. авт.: С.С. Горелик, Л.Н. Расторгуев, Ю.А. Скаков
320 _aБиблиогр. в конце глав
700 1 _aГорелик
_bС.С.
_gСемен Самуилович
701 1 _aРасторгуев
_bЛ.Н.
701 1 _aСкаков
_bЮ.А.
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j70-9/119
942 _cBOOK