000 01092nam0a22002891 4500
001 rc\3419425
005 20250610001902.0
021 _aRU
_b[70-38573]
035 _a(NLR Aleph) 007581705
090 _a5515559
_c5515559
100 _a20130115d1970 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aСвойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении
210 _aМосква
_cЭнергия
_d1970
215 _a103 с.
_cил.
_d20
225 1 _aБиблиотека по радиоэлектронике
_vВып. 23
300 _aНа обл. загл. серии: Б-ка радиоэлектроники
320 _aБиблиогр.: с. 100-103
606 _aПолупроводниковые приборы
_xИспытание на надежность
_2psbo
700 1 _aГорюнов
_bН.Н.
_gНиколай Николаевич
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j70-3/2467
942 _cBOOK
980 _aNB