000 01484nam2a22002531 4500
001 rc\3148681
005 20250530072231.0
035 _a(NLR Aleph) 007295277
090 _a5652784
_c5652784
100 _a20120615d1975 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aСекция "Измерение параметров полупроводниковых приборов и интегральных схем"
210 _d1975
_aБ. м.
215 _a232 с.
_cил.
333 _aДСП. Экз. № 599
461 0 _1001rc\3148678
_12001#$aМатериалы VI научно-технической конференции "Радиоизмерения"$fПод общ. ред проф., д. т. н. Д. Эйдукас$gЛитов. НИИ науч.-техн. информации и техн.-экон. анализа. Т. 1$vТ. 3
_95652756
_a"Радиоизмерения", науч.-техн. конференция (6; 1975; Вильнюс)
_cКаунас
_d1975
_fПод общ. ред проф., д. т. н. Д. Эйдукас
_nБ. и.
_tМатериалы VI научно-технической конференции "Радиоизмерения"
_vТ. 3
532 1 3 _aСекция Измерение параметров полупроводниковых приборов и интегральных схем
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j75-50К/4952
942 _cBOOK
980 _aNB