000 01302nam2a22002891 4500
001 rc\3471866
005 20130115135815.5
035 _a(NLR Aleph) 007596973
090 _a5672385
_c5672385
100 _a20130115d1969 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aМетоды физико-технического анализа и неразрушающего контроля изделий
_e(Временное руководство)
_f[Подгот.: кандидаты техн. наук Дубицкий Л.Г., Рукман Г.И., Сретенский В.Н. и др.]
210 _d1969
215 _a110 с.
_cил.
309 _aОтпеч. множит. аппаратом
333 _aДСП. Экз. № 000046
461 0 _1001rc\3471863
_12001#$aНормы и методы испытаний изделий электронной техники$aАппаратура применяемая при испытаниях$eВып. 1$fНауч.-исслед. ин-т$vВып. 3
702 1 _aРукман
_bГ. И.
_4570
702 1 _aДубицкий
_bЛ. Г.
_4570
702 1 _aСретенский
_bВ. Н.
_4570
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j50К/19506
942 _cBOOK
980 _aNB