000 01001nam0a22002531 4500
001 rc\975097
005 20260407024302.0
035 _a(NLR Aleph) 006143832
090 _a5690335
_c5690335
100 _a20041129d1982 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aНадежность микроэлектронных схем и элементов
_eСб. науч. тр.
_fАН УССР, Ин-т полупроводников
_g[Отв. ред. М.М. Некрасов, В.Г. Литовченко]
210 _aКиев
_cНаукова думка
_d1982
215 _a207 с.
_cграф.
_d20
320 _aБиблиогр. в конце работ
702 1 _aНекрасов
_bМ.М.
_gМихаил Макарович
_4340
712 0 2 _aИнститут полупроводников
_cКиев
_3RU\NLR\AUTH\8810009876
_9517477
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j82-3/10289
942 _cBOOK
980 _aNB