000 00922nam0a22002531 4500
001 rc\981324
005 20250622064730.0
035 _a(NLR Aleph) 006149304
090 _a5745005
_c5745005
100 _a20041129d1982 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aОпределение структурных слоев полупроводниковых детекторов с помощью заряженных частиц
_fМ.Г. Горнов, Ю.Б. Гуров, П.В. Морохов и др.
210 _aДубна
_cОИЯИ
_d1982
215 _a7 с.
_cграф.
_d22
225 1 _aПрепринт
_fОбъед. ин-т ядер. исслед.
_v13-82-350
320 _aБиблиогр.: с. 7 (7 назв.)
701 1 _aГорнов
_bМ.Г.
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j82-6/7103
942 _cBOOK
980 _aNB