| 000 | 01358nam2a22002891 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | rc\3486763 | ||
| 005 | 20130115140900.3 | ||
| 035 | _a(NLR Aleph) 007604869 | ||
| 090 |
_a5754039 _c5754039 |
||
| 100 | _a20130115d1970 |||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _aa z ||||| | ||
| 200 | 1 |
_aМетоды физико-технического анализа и неразрушающего контроля изделий _e(Врем. руководство) _f[Подгот. кандидаты техн. наук Дубицкий Л.Г., Рукман Г.И., Сретенский В.Н. и др.] |
|
| 210 | _d1970 | ||
| 215 |
_a71 с. _cил. |
||
| 320 | _aБиблиогр.: с. 68-71 | ||
| 333 | _aДСП. Экз. № 245 | ||
| 461 | 0 |
_1001rc\3486762 _12001#$aНормы и методы испытаний изделий электронной техники$eАппаратура, применяемая при испытаниях$e[Утв. М-вом электронной пром-сти СССР 20/III 1969 г.]$eВып. 3$fНауч.-исслед. ин-т$vВып. 3 |
|
| 702 | 1 |
_aРукман _bГ. И. _4570 |
|
| 702 | 1 |
_aДубицкий _bЛ. Г. _4570 |
|
| 702 | 1 |
_aСретенский _bВ. Н. _4570 |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _gpsbo |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bELAR _2rusmarc |
|
| 852 |
_aNLR _j50К/24270 |
||
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||