| 000 | 00894nam0a22002531 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | rc\606078 | ||
| 005 | 20250621181820.0 | ||
| 035 | _a(NLR Aleph) 005850176 | ||
| 090 |
_a5770427 _c5770427 |
||
| 100 | _a20031121d1986 |||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _aa ||||||||| | ||
| 200 | 1 |
_aЛазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках _e[Сб. ст.] _fОтв. ред. д. ф.-м. н. А.А. Маненков |
|
| 210 |
_aМ. _cНаука _d1986 |
||
| 215 |
_a153 с. _cил. _d24 |
||
| 225 | 1 |
_aТруды Института общей физики _fАН СССР _vТ. 4 |
|
| 320 | _aБиблиогр. в конце ст. | ||
| 702 | 1 |
_aМаненков _bА.А. _4340 |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _gpsbo |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bELAR _2rusmarc |
|
| 852 |
_aNLR _jП7/2089 |
||
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||