000 01359nam0a22002891 4500
001 rc\3125146
005 20250530080903.0
021 _aRU
_b[75-73931]
035 _a(NLR Aleph) 007313039
090 _a5830078
_c5830078
100 _a20120615d1975 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aМетоды определения основных параметров полупроводниковых материалов
_e[Учеб. пособие для вузов по специальности "Полупроводниковые приборы"]
_fЛ.П. Павлов
210 _aМосква
_cВысш. школа
_d1975
215 _a206 с.
_cчерт.
_d21
300 _aЗагл. 2-го изд.: Методы измерения параметров полупроводниковых материалов
320 _aСписок лит.: с. 201 (11 назв.)
517 0 _aМетоды измерения параметров полупроводниковых материалов
606 _aПолупроводники
_xПараметры
_xИзмерение
_jУчебники и пособия
_2psbo
700 1 _aПавлов
_bЛ.П.
_gЛев Павлович
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j75-5/3645
942 _cBOOK
980 _aNB