000 00842nam0a22002531 4500
001 rc\993111
005 20250622071247.0
035 _a(NLR Aleph) 006160116
090 _a5853824
_c5853824
100 _a20041129d1981 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aПримеси и точечные дефекты в полупроводниках
_fПод ред. С.М. Рывкина
210 _aМ.
_cРадио и связь
_d1981
215 _a248 с.
_cил.
_d21
320 _aБиблиогр.: с. 215-246 (551 назв.)
700 1 _aЕмцев
_bВ.В.
_gВадим Валентинович
701 1 _aМашовец
_bТ.В.
_gТатьяна Вадимовна
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j81-3/8470
942 _cBOOK
980 _aNB