000 00986nam0a22002411i 4500
001 rc\331137
005 20240726104347.0
035 _a(NLR Aleph) 005566548
090 _a5967109
_c5967109
100 _a20030307d1989 u |0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _ay |||||||||
200 1 _aТестовые схемы и методы контроля технологического процесса создания интегральных микросхем
_e(Приметительно к гибким произв. системам)
_eАвтореф. дис. на соиск. учен. степ. к. т. н.
_fМин. радиотехн. ин-т
210 _aМинск
_d1989
215 _a17 с.
320 _aСписок работ авт.: с. 15-17
333 _aДСП. Экз. № 94
700 1 _aДробыш
_bП.П.
_gПетр Павлович
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j90-50К/3694
942 _cBOOK