000 01417nam0a22002651 4500
001 rc\3183165
005 20250530092156.0
021 _aRU
_bП673-75
035 _a(NLR Aleph) 007335481
090 _a6053829
_c6053829
100 _a20120628d1975 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _ay z |||||
200 1 _aМетоды исследования свойств и состояния поверхностей материалов
_e(Межвед. семинар, июль 1975 г.)
_e[Сборник статей]
_fНауч. ред. д. ф.-м. н., проф. Г.Н. Шуппе
210 _aМосква
_cБ. и.
_d1975
215 _a52 с.
_cграф.
_d21
225 1 _aМинистерство электронной промышленности СССР. ЦНИИ "Электроника". Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике
_vВып. 44
_hСерия 7
_iТехнология, организация производства и оборудование
_vВып. 1
320 _aБиблиогр. в конце статей
702 1 _aШуппе
_bГ.Н.
_gГеоргий Николаевич
_4340
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_jП11/2650
942 _cBOOK
980 _aNB