| 000 | 01388nam0a22002651 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | rc\356566 | ||
| 005 | 20250621043704.0 | ||
| 035 | _a(NLR Aleph) 005576571 | ||
| 090 |
_a6067613 _c6067613 |
||
| 100 | _a20030307d1989 |||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _aa ||||||||| | ||
| 200 | 1 |
_aОПТИМИЗАЦИЯ метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электрическом поле _e(По данным отеч. и зарубеж. печати за 1975-1988 годы) _fВ.Г. Чигринов, Т.В. Коркишко, Г.Е. Невская, А.Е. Рубцов |
|
| 210 |
_aМ. _cЦНИИ "Электроника" _d1989 |
||
| 215 |
_a51 с. _cил. _d21 |
||
| 225 | 1 |
_aОбзоры по электронной технике _fЦНИИ "Электроника" _vВып. 1439 _hСерия 8 _iУправление качеством, стандартизация, метрология, испытания _vВып. 2 |
|
| 300 | _aВ надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР | ||
| 320 | _aБиблиогр.: с. 41-51 | ||
| 701 | 1 |
_aЧигринов _bВ.Г. _gВладимир Григорьевич |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _gpsbo |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bELAR _2rusmarc |
|
| 852 |
_aNLR _jП51/94 |
||
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||