000 01147nam0a22002651 4500
001 rc\1019067
005 20250622081227.0
090 _a6095161
_c6095161
100 _a20041129d1981 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _ay |||||||||
200 1 _aМетоды контроля полупроводниковых запоминающих устройств с произвольной выборкой
_f[Г.Х. Ягудин, Е.П. Щепетов, Г.С. Петрова, А.С. Акиничева]
210 _aМ.
_cЦНИИ "Электроника"
_d1981
215 _a50 с.
_d21
225 1 _aОбзоры по электронной технике
_fЦНИИ "Электроника"
_vВып. 787
_hСерия 3
_iМикроэлектроника
_vВып. 3
300 _aВ надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР
320 _aБиблиогр.: с. 42-50
701 1 _aЯгудин
_bГ.Х.
_gГади Хасянович
852 _aNLR
_jП51/94
942 _cBOOK