000 01357nam0a22002891 4500
001 rc\1036724
005 20250622085340.0
035 _a(NLR Aleph) 006199516
090 _a6252161
_c6252161
100 _a20041129d1981 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aСпектроскопия обратно рассеянных ионов низких энергий
_e(По данным отеч. и зарубеж. печати за 1961-1981 гг.)
210 _aМ.
_cЦНИИ "Электроника"
_d1981
215 _a79 с.
_cил.
_d21
225 1 _aОбзоры по электронной технике
_fЦНИИ "Электроника"
_vВып. 820
_hСерия 7
_iТехнология, организация производства и оборудования
_vВып. 15
300 _aВ вып. дан. авт.: к. ф.-м. н. С.С. Волков, А.Б. Тостогузов
300 _aВ надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР
320 _aБиблиогр.: с. 64-79
700 1 _aВолков
_bС.С.
_gСтепан Степанович
701 1 _aТолстогузов
_bА.Б.
_gАлександр Борисович
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_jП51/94
942 _cBOOK
980 _aNB