000 01081nam0a22002651 4500
001 rc\3220525
005 20130115140824.2
021 _aRU
_bРг12078-72
021 _aRU
_b72-38861
035 _a(NLR Aleph) 007364341
090 _a6340688
_c6340688
100 _a20130115d1972 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa c |||||
200 1 _aОптимизация метрологического обеспечения производства интегральных схем
_eМетод. указания по курсу "Основы радиоэлектроники"
_fМ-во высш. и сред. спец. образ. СССР. Моск. лесотехн. ин-т. Кафедра основ радиоэлектроники
210 _aМосква
_cБ. и.
_d1972
215 _a83 с.
_cил.
_d22
320 _aБиблиогр.: с. 78-81
700 1 _aЖиликов
_bС. Г.
_gСерафим Григорьевич
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j72-6/6421
942 _cBOOK
980 _aNB