| 000 | 00892nam1a22002291i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | rc\3570370 | ||
| 005 | 20240723213956.0 | ||
| 035 | _a(NLR Aleph) 007678351 | ||
| 090 |
_a6510552 _c6510552 |
||
| 100 | _a20130115g19701973|||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _a j ||||| | ||
| 200 | 1 |
_aМетоды измерения параметров полупроводников _e[Курс лекций _eВ 3 ч.] _fПод ред. д-ра техн. наук проф. С.С. Горелкина. Ч. 1-3 _gМоск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников |
|
| 210 |
_aМосква _cБ. и. _d1970-1973 |
||
| 215 | _d21 | ||
| 700 | 1 |
_aПотапов _bЮ.В. |
|
| 702 | 1 |
_aГорелик _bС.С. _4340 |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _gpsbo |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bELAR _2rusmarc |
|
| 852 |
_aNLR _j71-3/5615 |
||
| 942 | _cBOOK | ||