000 01415nam2a22002411 4500
001 rc\900327
005 20250622103300.0
035 _a(NLR Aleph) 006241798
090 _a6672930
_c6672930
100 _a20041129d1984 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 0 _aЧ. 2
210 _d1984
_aБ. м.
215 _a[1], 115-238 с.
_cил.
320 _aБиблиогр. в конце докл.
461 0 _1001rc\900325
_12001#$aТезисы докладов III Всесоюзного научно-технического семинара "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", Рязань, 14-16 июня 1984 г.$vЧ. 2
_96672913
_a"Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", всесоюзный науч.-техн. семинар (3 ; 1984 ; Рязань)
_cМ.
_d1984
_nБ. и.
_tТезисы докладов III Всесоюзного научно-технического семинара "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", Рязань, 14-16 июня 1984 г.
_vЧ. 2
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j84-3/9864
942 _cBOOK
980 _aNB