| 000 | 01039nam0a22002771 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | rc\708154 | ||
| 005 | 20250621220753.0 | ||
| 035 | _a(NLR Aleph) 005943483 | ||
| 090 |
_a6703863 _c6703863 |
||
| 100 | _a20031121d1985 |||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _aa ||||||||| | ||
| 200 | 1 |
_aТочечные дефекты в полупроводниках _eЭксперим. аспекты _fПер. с англ. Ю.М. Гальперина и др. _gПод ред. [и с предисл.] В.Л. Гуревича |
|
| 210 |
_aМ. _cМир _d1985 |
||
| 215 |
_a304 с. _cил. _d21 |
||
| 300 | _aПеревод изд.: Point defects in semiconductors / J. Bourgoin, M. Lannoo (Berlin etc., 1983) | ||
| 320 | _aБиблиогр.: с. 9 (19 назв.), 289-297 | ||
| 320 | _aПредм. указ.: с. 298-300 | ||
| 700 | 1 |
_aБургуэн _bЖ. _gЖан |
|
| 701 | 1 |
_aЛанно _bМ. _gМишель |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _gpsbo |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bELAR _2rusmarc |
|
| 852 |
_aNLR _j86-5/2210 |
||
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||