| 000 | 00918nam0a22002531 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | rc\423108 | ||
| 005 | 20030616170454.6 | ||
| 035 | _a(NLR Aleph) 005670505 | ||
| 090 |
_a6969284 _c6969284 |
||
| 100 | _a20030616d1987 u |0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _aa ||||||||| | ||
| 200 | 1 |
_aДИАГНОСТИКА интегральных микросхем при внешних воздействиях _fВ.М. Бондаренко, С.Н. Редковец, А.В. Маранов и др. |
|
| 210 |
_aКиев _cИЭД _d1987 |
||
| 215 |
_a27 с. _cил. _d20 |
||
| 225 | 1 |
_aПрепринт _fАН УССР, Ин-т электродинамики _v533 |
|
| 320 | _aБиблиогр.: с. 26 | ||
| 701 | 1 |
_aБондаренко _bВ. М. _gВладимир Михайлович |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _gpsbo |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bELAR _2rusmarc |
|
| 852 |
_aNLR _j88-4/24935 |
||
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||