000 01293nam0a22002651 4500
001 rc\449530
005 20250621090937.0
035 _a(NLR Aleph) 005694686
090 _a7213359
_c7213359
100 _a20030616d1988 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aСОСТОЯНИЕ и перспективы развития фототермоакустической микроскопии материалов и изделий электронной техники
_fВ.О. Ребони, Э.П. Исаев, Б.И. Мазурик, Т.В. Комарова
210 _aМ.
_cЦНИИ "Электроника"
_d1988
215 _a32 с.
_cсхем.
_d22
225 1 _aОбзоры по электронной технике
_fЦНИИ "Электроника"
_vВып. 1334
_hСерия 8
_iУправление качеством, стандартизация, метрология, испытания
_vВып. 2
300 _aВ надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР
320 _aБиблиогр: с. 26-32
701 1 _aРебони
_bВ.О.
_gВольдемар Освальдович
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_jП51/94
942 _cBOOK
980 _aNB