000 01288nam0a22002891 4500
001 rc\132415
005 20250620202325.0
010 _a5-7558-0179-7
_9300
035 _a(NLR Aleph) 005406462
090 _a7327934
_c7327934
100 _a20030307d1996 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aФизические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок
_fВ.А. Бушуев, Р.Н. Кютт, Ю.П. Хапачев
_gПод ред. Ю.П. Хапачева
_gКабард.-Балк. гос. ун-т
210 _aНальчик
_cКБГУ
_d1996
215 _a178, [2] с.
_cил.
_d21
320 _aБиблиогр.: с. 171-178 (260 назв.)
700 1 _aБушуев
_bВ.А.
_gВладимир Алексеевич
701 1 _aКютт
_bР.Н.
_gРегинальд Николаевич
701 1 _aХапачев
_bЮ.П.
_gЮрий Пшиканович
702 1 _aХапачев
_bЮ.П.
_gЮрий Пшиканович
_4340
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j96-3/7418
942 _cBOOK
980 _aNB