| 000 | 01151nam0a22002771 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | rc\465690 | ||
| 005 | 20030616172138.1 | ||
| 035 | _a(NLR Aleph) 005709817 | ||
| 090 |
_a7366065 _c7366065 |
||
| 100 | _a20030616d1988 u |0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _aa ||||||||| | ||
| 200 | 1 |
_aИзмерение глубины рельефа фазовых киноформных структур _fЗилинг К.К., Солдатенков И.С., Терпугов Н.В. |
|
| 210 |
_aНовосибирск _cИн-т физики полупроводников _d1988 |
||
| 215 |
_a[1], 25 с. _cил. _d19 |
||
| 225 | 1 |
_aПрепринт _fАН СССР. Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников _v№ 28 |
|
| 320 | _aБиблиогр.: с. 25 | ||
| 700 | 1 |
_aЗилинг _bК. К. _gКарл Константинович |
|
| 701 | 1 |
_aСолдатенков _bИ. С. _gИван Степанович |
|
| 701 | 1 |
_aТерпугов _bН. В. _gНиколай Васильевич |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _gpsbo |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bELAR _2rusmarc |
|
| 852 |
_aNLR _j89-4/3962 |
||
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||