000 01009nam0a22002651 4500
001 rc\833114
005 20041129091925.2
035 _a(NLR Aleph) 006015032
090 _a7368498
_c7368498
100 _a20041129d1984 u |0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _ay |||||||||
200 1 _aК вопросу об учете подложки при квазиоптических методах определения импеданса тонкой проводящей пленки
210 _aМ.
_cБ. и.
_d1984
215 _a[1], 14 с.
_d22
225 1 _aПрепринт
_fАН СССР, Ин-т общ. физики, Лаб. колебаний
_v№ 266
_iОптика и спектроскопия
320 _aБиблиогр.: с. 14
700 1 _aИрисова
_bН. А.
_gНаталия Александровна
701 1 _aЛатышев
_bА. Б.
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j85-4/19445
942 _cBOOK
980 _aNB