000 01244nam0a22002771 4500
001 rc\838406
005 20250622012014.0
035 _a(NLR Aleph) 006020060
090 _a7418468
_c7418468
100 _a20041129d1983 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aМетрологические основы и методики измерения электрофизических параметров во внутриреакторном эксперименте
_fН.В. Маркина, В.В. Сарксян, В.И. Гнеушева
210 _aДимитровград
_cНИИАР
_d1983
215 _a[1], 18 с.
_cграф.
_d20
225 1 _aПрепринт
_fНИИ атом. реакторов им. В.И. Ленина
_vНИИАР-7 (572)
_iМетодика и техника облучения
320 _aБиблиогр.: с. 16-18
700 1 _aМаркина
_bН.В.
_gНаталия Владимировна
701 1 _aСарксян
_bВ.В.
_gВалерий Вардеванович
701 1 _aГнеушева
_bВ.И.
_gВера Ивановна
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j83-4/27040
942 _cBOOK
980 _aNB