000 01496nam1a22003131 4500
001 rc\3237512
005 20130115142012.5
021 _aRU
_b[70-67715]
021 _aRU
_b[70-67714]
035 _a(NLR Aleph) 007474546
090 _a7451530
_c7451530
100 _a20130115g1970 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _a z |||||
200 1 _aФизико-химические основы методов анализа чистых металлов и полупроводниковых материалов
_eКонспект лекций
_eЧ. 1-
_fМоск. ин-т стали и сплавов. Кафедра производства чистых металлов и полупроводниковых материалов
210 _aМосква
_cБ. и.
_d1970-
215 _d20
300 _aПеред загл. авт.: Л.А. Фирсанова, С.А. Ершова, Н.М. Конышева
606 _aПолупроводники
_xФизико-химический анализ
_2psbo
606 _aМеталлы химические чистые
_xФизико-химический анализ
_2psbo
700 1 _aФирсанова
_bЛ. А.
_gЛидия Алексеевна
701 1 _aЕршова
_bС. А.
701 1 _aКонышева
_bН. М.
_f1947-
_gНаталья Михайловна
_3RU\NLR\AUTH\774229
_4070
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j70-3/5456
942 _cBOOK
980 _aNB