000 01263nam0a22002771 4500
001 rc\171939
005 20250620220035.0
035 _a(NLR Aleph) 005434237
090 _a7609562
_c7609562
100 _a20030307d1993 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aОСНОВНЫЕ принципы и методы ускоренных испытаний на надежность радиоэлектронной аппаратуры
_fА.Н. Явриян, В.Б. Широков, А.Я. Резиновский, В.Л. Чибисов
210 _aМ.
_cЗнание
_d1993
215 _a112 с.
_cграф.
_d20
225 1 _aКачество и надежность изделий
_fГос. политехн. музей
_v№ 2 (23)
300 _aНа 3 с. авторы: А.Н. Явриян, д. т. н., В.Б. Широков, А.Я. Резиновский, кандидаты техн. наук, В.Л. Чибисов
300 _aНа обл. только загл. сер.
320 _aБиблиогр.: с. 73
701 1 _aЯвриян
_bА.Н.
_gАлександр Николаевич
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_jП10/7019
942 _cBOOK
980 _aNB