000 00985nam0a22002531 4500
001 rc\493411
005 20250621105137.0
035 _a(NLR Aleph) 005735156
090 _a7620101
_c7620101
100 _a20030616d1988 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aМетоды электронной микроскопии при исследовании аморфных пленок и тонких кристаллов
_fЛ.И. Вершинина, С.З. Склюев, Г.И. Фролов и др.
210 _aКрасноярск
_cИФ
_d1988
215 _a51 с.
_cил.
_d20
225 1 _aПрепринт
_fАН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского
_v№ 520Ф
320 _aБиблиогр.: с. 50-51 (20 назв.)
701 1 _aВершинина
_bЛ.И.
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j88-4/21488
942 _cBOOK
980 _aNB