| 000 | 01165nam0a22002891 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | rc\262813 | ||
| 005 | 20250612180212.0 | ||
| 035 | _a(NLR Aleph) 008768971 | ||
| 090 |
_a7912023 _c7912023 |
||
| 100 | _a20030307d1991 |||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _arus | |
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _aa ||||||||| | ||
| 200 | 1 |
_aРЕЛАКСАЦИОННЫЕ методы определения электрофизических параметров поверхностно-барьерных структур _fВ.А. Гусев, Т.В. Паничевская, А.В. Саченко, В.И. Турчаников |
|
| 210 |
_aКиев _cБ. и. _d1991 |
||
| 215 |
_a30 с. _cил. _d20 |
||
| 225 | 1 |
_aПрепринт _fАН УССР. Ин-т полупроводников _v9-91 |
|
| 300 | _aРез. на англ. яз. | ||
| 320 | _aБиблиогр.: с. 29-30 | ||
| 606 | 1 |
_aПолупроводники _xПоверхностные явления электронные _2nlr_sh1 |
|
| 701 | 1 |
_aГусев _bВ.А. |
|
| 801 | 0 |
_aRU _bNLR _gpsbo |
|
| 801 | 1 |
_aRU _bELAR _2rusmarc |
|
| 801 | 2 |
_aRU _bNLR _c20050516 _2rusmarc |
|
| 852 |
_aNLR _j91-4/15469 |
||
| 942 | _cBOOK | ||
| 980 | _aNB | ||