000 01041nam0a22002651 4500
001 rc\308911
005 20250612183432.0
035 _a(NLR Aleph) 008784037
090 _a8000115
_c8000115
100 _a20030307d1990 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aНейтронографическое исследование влияния электрического поля на кристаллы SrχBa₁ - χ - χNb₂O₆ (x-0,70:0.75)
_fФ. Прокерт, А.М. Балагуров, Б.Н. Савенко, Д. Сангаа
210 _aДубна
_cОИЯИ
_d1990
215 _a12 с.
_cил.
_d22
225 1 _aСообщения Объединенного института ядерных исследований
_v14-90-239
320 _aБиблиогр.: с. 12 (13 назв.)
701 1 _aПрокерт
_bФ.
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
801 2 _aRU
_bNLR
_c20040406
_2rusmarc
852 _aNLR
_j90-6/1407
942 _cBOOK
980 _aNB