000 01190nam0a22002651 4500
001 rc\4189245
005 20250611011225.0
035 _a(NLR Aleph) 008003732
090 _a8656165
_c8656165
100 _a20130415d1952 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aРазработка методов контроля качества поверхностного слоя, упрочненного электроискровым методом
_eРуководящие материалы
_fСост.: к. т. н. М.О. Якобсон
_gПод ред. д. т. н. проф. И.И. Семенченко
_gМ-во станкостроения СССР. Всесоюз. науч.-исслед. инструментальный ин-т
210 _aМосква
_cБ. и.
_d1952
215 _a[2], 13 с.
_cил.
_d29
300 _aАвт. на обл. не указан
300 _aСтеклогр.
700 1 _aЯкобсон
_bМ.О.
_gМихаил Осипович
_4220
702 1 _aСеменченко
_bИ.И.
_4340
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_jТ36 Г-8/626
942 _cBOOK
980 _aNB