000 01258nam0a22002771 4500
001 rc\4857041
005 20250613021011.0
021 _aRU
_b[68-111476]
035 _a(NLR Aleph) 008902147
090 _a8709803
_c8709803
100 _a20130426d1968 |||y0rusy50 ca
101 1 _arus
_ceng
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aТеоретическое исследование точности некоторых методов измерения оптических постоянных и толщины тонких пленок при нормальном падении
_e[Пер. с англ.]
_fМ-во электронной пром-сти СССР. Переводы иностр. литературы
210 _aМосква
_cИн-т "Электроника"
_d1968
215 _a15 с.
_cчерт.
_d21
225 1 _aСерия "Контрольно-измерительная аппаратура"
_eПеревод
_v№ 20/ЭТ-3046
300 _aНа обл. авт. не указан
606 _aПленки тонкие
_xПараметры
_xИзмерение
_2psbo
700 1 _aУард
_bЛ.
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_jП51/590
942 _cBOOK
980 _aNB