000 01224nam0a22003251 4500
001 RU\NLR\INFOCOMM_161\5000075736
005 20250613094738.0
035 _a(NLR Aleph) 009272722
090 _a9112185
_c9112185
100 _a20100806d1978 |||y0rusy50 ca
101 0 _aeng
_drus
102 _aRU
105 _ay ||||000|y
200 1 _aOn the surface electrical resistivity of thin semiconducting and semimetallic films
_fH. D. Dimitrov
210 _aДубна
_cОИЯИ
_d1978
215 _a17 с.
_d20 см
225 1 _aˆ[‰Издания]
_fОбъед. ин-т ядер. исслед.
_vЕ17-11463
300 _aРез. на рус. яз.
320 _aБиблиогр.: с. 16-17
606 _aПолупроводниковые пленки
_xЭлектрическое сопротивление
_2nlr_sh1
606 _aПолуметаллы
_xТонкие пленки
_xЭлектрическое сопротивление
_2nlr_sh1
686 _aВ379.212.6
_2rubbk
686 _aК206.331
_2rubbk
700 1 _9z02790
_aDimitrov
_bCh. D.
_4070
790 1 _9z02700
_aDimitrov
_bH. D.
_4070
801 1 _aRU
_bNLR
_c20100806
801 0 _aRU
_bNLR
_gPSBO
852 _aNLR
_jП11/2061
942 _cBOOK
980 _aNB