000 01651nam0a22003131 4500
001 RU\INFOCOMM_322\NLR\5000186312
005 20250613110823.0
035 _a(NLR Aleph) 009575382
090 _a9156170
_c9156170
100 _a20130219d1991 |||y0rusy50 ca
101 0 _aeng
102 _aRU
105 _ay z |||||
200 1 _aMeasurement of magnetic field penetration depth in niobium polycrystalline films by polarized neutron reflection method
_eSubmitted to the proc. of the IInd Intern. conf. on surface X-ray a. neutron scattering, Bad Honnef, Germany, June 25-28, 1991
_fL. P. Chernenko, D. A. Korneev, A. V. Petrenko et al.
210 _aДубна
_cОбъед. ин-т ядер. исслед.
_d1991
215 _a4 с.
_cграф.
_d21 см
225 1 _aОбъединенный институт ядерных исследований, Дубна
_vЕ3-91-330
300 _aНа 3-й с. обл.: Измерение глубины проникновения магнитного поля в ниобиевые поликристаллические пленки методом отражения поляризованных нейтронов / Черненко Л. П. и др.
300 _aРез. на рус. яз.
320 _aБиблиогр.: с. 4
606 0 _aНиобий
_xТонкие пленки сверхпроводящие
_91743492
_3RU\NLR\AUTH\66780387
686 _aВ332.213
_2rubbk
701 1 _9z02790
_aČernenko
_bL. P.
790 1 _9z02701
_aChernenko
_bL. P.
_4070
801 1 _aRU
_bInfocomm
_c20130219
801 0 _aRU
_bINFOCOMM
_gPSBO
852 _aNLR
_jФз01 Д-4/6449
942 _cBOOK
980 _aNB