000 01522nam0a22003251 4500
001 RU\NLR\INFOCOMM_165\5000012769
005 20250613095448.0
035 _a(NLR Aleph) 009295439
090 _a9246218
_c9246218
100 _a20101006d1988 |||y0rusy50 ca
101 1 _aeng
_darm
_drus
_geng
_feng
_farm
_frus
102 _aRU
_aAM
105 _aa ||||000|y
200 1 _aˆAn ‰express method for determination of crystal perfection using synchrotron radiation
_fI. P. Karabekov, D. L. Egikian, R. A. Mikaelian et al.
_g[Пер. Папяна Г. А.]
210 _a[М.]
_aЕреван
_cЦНИИ атоминформ
_cЕрев. физ. ин-т
_d1988
215 _a11 с.
_cил.
_d20 см
225 1 _aPreprint
_fYerevan physics inst.
_vYERPHI-1117(80)-88
300 _aВ вып. дан.: Метод экспрессного определения степени нарушенности кристаллов с использованием синхротронного излучения / И. П. Карабеков и др.
300 _aНадзаг. также на арм. и рус. яз.
300 _aРез. на арм. и рус. яз.
320 _aБиблиогр.: с. 11
606 _aКристаллы
_xДефекты
_xИсследования
_2nlr_sh1
686 _aВ371.231
_2rubbk
686 _aВ371.213
_2rubbk
701 1 _aKarabekov
_bI. P.
_gIvan Patvakanovič
_4070
801 1 _aRU
_bNLR
_c20101006
801 0 _aRU
_bNLR
_gPSBO
852 _aNLR
_jФз01 Д-4/5307
942 _cBOOK
980 _aNB