000 01568nam0a22003011 4500
001 rc\4751598
005 20250613073013.0
021 _aRU
_b[65-62950]
035 _a(NLR Aleph) 009011010
090 _a9367609
_c9367609
100 _a20130417d1965 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aУстановка для автоматического определения температурной зависимости коэффициента тэдс и электропроводности полупроводниковых материалов
_fГос. ком. Совета Министров РСФСР по координации науч.-исслед. работ. Гос. науч.-исслед. ин-т науч. и техн. информации
210 _aМосква
_cБ. и.
_d1965
215 _a16 с.
_cчерт.
_d21
225 1 _aПередовой научно-технический и производственный опыт
_v№ 18-65-1160/72
300 _aНа обл. авт. не указан
333 _aИзд. подписное
606 _aПолупроводники
_xЭлектрические свойства
_xОпределение
_2psbo
606 _aКонтрольно-измерительные инструменты и приборы, автоматические
_2psbo
700 1 _aЛискер
_bИ.С.
_gИосиф Семенович
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_jП11/2295
942 _cBOOK
980 _aNB