000 01676nam1a22003131i 4500
001 rc\4743855
005 20240726060837.0
021 _aRU
_b[58-65358]
090 _a9517233
_c9517233
100 _a20130416d1958 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aАвтоматизация двойного микроскопа
210 _aМосква
_cБ. и.
_d1958
215 _a14 с.
_cчерт.
_d26
225 1 _aПередовой научно-технический и производственный опыт
300 _aАвт. 1-й статьи: П.А. Обновленский, Л.А. Мусяков, М.А. Штейнцайг
423 0 _11010#$arus
_12001#$aАвтомат для контроля валиков$f[А.И. Хотилин и Н.Ф. Папазов]$gГос. науч.-техн. ком-т Совета Министров СССР. Акад. наук СССР. Филиал Всесоюз. ин-та науч. и техн. информации
_1700#1$aХотилин$bА.И.
_1701#1$aПапазов$bН.Ф.
606 _aКонтрольно-измерительные инструменты и приборы в машиностроении
_2psbo
606 _aМикроскопы двойные
_xАвтоматизация
_2psbo
700 1 _aОбновленский
_bП.А.
_gПетр Авенирович
701 1 _aМусяков
_bЛ.А.
_gЛеонид Абрамович
701 1 _aШтейнцайг
_bМ.А.
_gМатвей Абрамович
852 _aNLR
_jП11/1538
942 _cBOOK